KRD30系列離心式恒加速度試驗機（箱式）用于評估元器件、設(shè)備及其他電工電子產(chǎn)品在恒加速度環(huán)境（重力除外）下的結(jié)構(gòu)適應(yīng)性和性能是否良好，并獲得試品的電參數(shù)。
最大載荷（kg）/工位：20×2
加速度（g）：1~100
試品允許高度（mm）：300
安裝半徑（mm）：500
加速度精度（%）：≤3
控制方式：全閉環(huán)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)（遠程）自動控制+手動控制
標準：MIL-STD-810F IEC68-2-7 MIL-STD-202 MIL-STD-750 MIL-STD-883
